跌落测试标准及跌落测试方法
跌落测试是一种用于评估产品在意外跌落情况下性能的测试方法。这种测试通常用于评估产品的抗冲击性能和稳定性。在产品设计、生产和质量控制方面,跌落测试都具有重要意义。通过人工模拟产品在使用、储存、运输或装配过程中可能受到的各种外界机械应力,来验证产品对机械环境的适应能力。这种测试可以帮助制造商评估产品在实际使用过程中的耐用性,并确保产品在不同环境下的安全性和可靠性。通过跌落测试,制造商可以识别产品设计中的弱点,并采取措施加以改进,从而提高产品的质量和用户体验。
一、跌落试验方法:
1、自由跌落
目的:确定产品在搬运期间由于粗率装卸遭到跌落的适应性,或确定安全要求用的*低牢固等级。本试验主要用于非包装的试验样品,以及在运输箱中其包装可以作为样品一部分的试验样品。
2、重复自由跌落
目的:确定可能频繁跌落到硬表面的接有电缆的元件型装置,例如连接器和小型遥控装置,经受重复跌落的适应性。
二、试验条件:
试验表面:试验表面应该是混凝图或钢制成的平滑,坚硬的刚性表面.必要时,有关规范可以规定其他表面。
跌落高度:是指试验样品在跌落前悬挂着的时候,试验表面与离它近的样品部位之间的高度.
释放方法:释放试验样品的方法应使试验样品从悬挂着的位置自由跌落.释放时,要使干扰小.
跌落的高度:25mm,50mm,100mm,250mm,500mm,1000mm.
三、电子产品跌落测试标准,自由跌落试验的检测标准如下:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ed:自由跌落GB/T 2423.8-1995/IEC:1990
包装运输包装件跌落试验方法GB/T 4857.5-1992/ISO2248:1985
包装运输包装件编制性能试验大纲的定量数据GB/T 4857.18-1992/IS04180-2:1980
星用通信设备通用规范GJB367A-2001
星用计算机通用规范GJB322A-1998
星用电子测试设备通用规范GJB3947A-2009
电子测量仪器通用规范GB/T 6587-2012
针对跌落实验国家有专门的标准,跌落方式都是一角、三边、六面之自由落体,跌落的高度是根据产品重量而定。分2250px、1900px、1625px几个等级。
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