计算器按键寿命测试方法 计算器按键寿命测试实验室

随着电子产品的普及和更新换代，市场需求量越来越大，而按键是电子产品中经常使用的部件之一，按键使用寿命的稳定性和耐久性直接影响产品的质量，下面中鉴检测将对按键寿命试验进行简单的介绍。

1、按键寿命试验介绍：

按键寿命测试是针对手机、电脑、鼠标、键盘、摇控器等之按键、通讯类等硅胶按键及金属弹片按键之使用寿命，对微动开关，橡胶开关等按键寿命均适用。按键寿命测试可以模拟键盘类真实使用情况，支持校力装置，真实反映按键耐打击能力。

2、按键寿命试验适用范围

用于点击开关、按键、带锁和不带锁开关疲劳寿命测试，如手机、电脑、鼠标、键盘、摇控器、游戏手柄等。

3、按键寿命试验条件：

测试次数：需要进行按压的次数，一般由客户决定；

测试压力：施加到按键上面的负荷，如250g、500g；

测试速率：两次按压之间的间隔，一般多少次每分钟；

4、按键寿命试验判定：

按照客户提供的实验条件测试完成后，

对样品进行外观检査如：各按键外观应无深度刮痕、无深度变形、无破裂、明显松动等现象;

对样品进行功能检查如：按键能正常动作，指示灯正常显示，各类功能均能正常控制等。

5、实际价格根据‌测试项目、‌样品数量、按多少次来判定费用。针对大量设备测试时的优惠价格，‌具体价格可能因测试数量和项目而有所不同。如果您有按键寿命测试的需求，您直接联系中鉴检测余经理，‌获取Zui准确的报价信息。

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按键寿命测试通常包括模拟按键的反复按压，‌以评估按键的耐用性和可靠性。‌测试过程中可能会考虑按键的按压次数、‌按压力度、‌按压速度等因素，‌以确保测试结果的准确性和可靠性。‌

深圳市中鉴检测技术有限公司(中文简称:中鉴检测，英文全称:Shenzhen CCTl Technology Co, Ltd.，简称:CCTI TEST)是一家综合性、专业性、全球性的第三方检测认证机构，可一站式提供产品EMC电磁兼容、LVD低电压安全、RF无线射频、RoHS环保、CCC、ISO体系、ISTA国际安全运输协会认证、IP防尘防水、IK防撞等级测试、盐雾试验、高低温循环、冷热沖击试验、UV老化试验、氙灯老化试验、震动试验、跌落试验、按键寿命试验、拉力试验等一系列产品安全可靠性检测，欢迎来电交流!