学习机跌落试验报告模板
1、跌落测试介绍:
跌落测试是主要用来模拟未包装或者已包装的产品在搬运期间可能受到的自由跌落损伤,检验产品抗意外冲击的能力。通常跌落高度大都根据产品重量以及可能掉落机率做为参考标准,落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面(如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定)。
对于不同国际规范即使产品在相同重量下但掉落高度也不相同,例如:手持型产品(如手机, MP3等)大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等,IEC对于≦2kg的手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏,而MIL则建议掉落高度为122cm,Intel对手持型产品(如手机)则建议落下高度为150cm。试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。中鉴检测可靠性实验室包装跌落试验机,Zui高可跌落200cm。
2、跌落测试通常产品范围:
计算机类:电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等;
电子通信类:手机、射频器、电子通信元器件等;
电器类:家电、灯具、变电器等各类家电电器设备;
其他:包装箱、运输设备等。
3、跌落测试常规参考标准:
(1)GB/T 2423.8电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落
(2)GB/T 4857.5包装 运输包装件 跌落试验方法
(3)IEC 60068-2-32电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落
(4)ISTA 3A
4、跌落测试主要参数:
(1)跌落高度
(2)跌落次数
(3)跌落表面
5、跌落测试受限制因素:
(1)高度
(2)样品外形(针对自由跌落)
6、中鉴检测优势
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专业的可靠性测试团队为您的产品进行测试;
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深圳市中鉴检测技术有限公司(中文检测:中鉴检测,英文全称:Shenzhen CCTI Technology Co., Ltd.,简称:CCTI TEST)是一家综合性、专业性、全球性的第三方检测认证机构,可一站式提供产品EMC电磁兼容、LVD低电压安全、RF无线射频、ROHS环保、CCC、ISO体系、IP防尘防水、IK防撞等级测试、盐雾试验、高低温循环、冷热冲击试验、UV老化试验、氙灯老化试验、震动试验、跌落试验、按键寿命试验、拉力试验等一系列产品安全可靠性检测,欢迎来电交流!
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